품질관리(Quality Control)

검사장비 소개

검사장비 소개

X-RAY- X-eye 5100F

  • Application

    Non-destructive inspection

  • Our company has

    MFG: SEC

    MModel # : X-eye 5100F

  • 실용성을 강조한 X-ray 검사장비

    100kV ~ 130kV

    Micro-focus Closed tube 와 고선명도를 가진 Flat
    Panel Detector 를 탑재하여 높은 화질의 이미지 촬영 가능

  • 주 검사 목적

    Chip의 bonding 상태, 배열 확인

    Wafer와 Pin 크기 및 납땜 확인

    간격 및 크기 치수 확인(단위 mm)

    기포(Void) 확인

LCR METER - IM3523

  • Application

    to measure the inductance (L), capacitance (C),
    and resistance (R) of an electronic component.

  • Our company has

    MFG : HIOKI

    Model # IM3523

  • 고속, 고정밀도를 실현한 임피던스 측정기

  • 주 검사 목적

    RESISTOR 값 측정

    Capacitor 및 DIODE 값 측정

    세라믹 콘덴서 불량 여부 확인

Optical Microscope (high-
resolution) - BX53M

  • Application

    tSemiconductor FPD Inspection

  • Our company has

    MFG : Olympus

    Model # : BX53MRP

  • Our company has

    50배 / 100배 / 200배 / 500배 / 1,000배

  • 인스턴트 MIA(Multiple Image Alignment)기능으로
    다양한 고해상도 이미지 생성이 가능

  • 주 검사 목적

    lead pin의 모양, 크기 또는 파손, 납의 상태를 Check 하는
    고 배율 현미경